半導体デバイスの不良・故障解析技術 本 書籍 参考書
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「半導体デバイスの不良・故障解析技術」です。
二川 清 / 上田 修 / 山本 秀和
書き込みはありませんが、
しわ、ページ折り目(8枚目の写真と同レベルが3か所)あります。
画像をご参考ください。
自宅保管 喫煙無しです。
個人保管になりますので、ご理解いただける方でお願い致します。
返品・返金・クレーム不可でお願いします。
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