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以下の書籍となります。

・電子デバイスの信頼性向上・事例集　
　監修　塩見　弘
　編集委員　岡本英男
　　　　　　高橋洽太郎
　昭和61年11月25日　第1版第1刷
　サイエンスフォーラム発行
　Science Forum
　定価　53,000円
　全333頁
　外箱付き

・目次
　第1部　電子デバイスの故障モードと解析
　第2部　故障解析の成果の生かし方
　第3部　解析装置の効果的な使い方
　第4部　改善確認のための試験方法
　第5部　信頼性向上のための今後の留意点

・約30年前の書籍ですが、半導体デバイスの故障解析の基礎が丁寧に記載されています。

・半導体デバイスのプロセス設計・不良解析・信頼性試験を学習・研究される方などの、半導体エンジニア向けかと存じます。


・書き込みはございません。見落としがある可能性がございます点、ご了承下さい。

・本の角にはヨレ等はございません。画像にてご確認下さい。

・個人名が書かれている箇所が複数あります。発送前に、紙を貼って修正させて頂きます。

以上、ご活用頂ける方、ご検討のほど、宜しくお願いいたします。