【本書の特徴】
本書はTOEIC L&Rテストのための実践的な学習書です。基礎から応用まで幅広くカバーしており、受験者が必要なスキルを効率的に習得できるように設計されています。

【著者について】
著者のYOSHIZUKA Hiroshi氏とGraham Skerritt氏は、TOEICテストに関する豊富な経験を持つ専門家です。彼らの指導により、受験者は自信を持ってテストに臨むことができます。

【学習方法】
本書では、実践問題や解説が豊富に含まれており、受験者は自分のペースで学習を進めることができます。特に、リスニングとリーディングのスキル向上に役立つ内容が充実しています。

- タイトル: BEST PRACTICE FOR THE TOEIC® L&R TEST
- 著者: YOSHIZUKA Hiroshi, Graham Skerritt
- 出版社: SEIBIDO
- シリーズ名: Basic
- ジャンル: 資格・検定

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